EL ጨለማ የሆነበትን ቦታ ያሳይዎታል፣ ግን ለምን አይደለም፡

ፈጣን መልስ፦ ኤሌክትሮሉሚኔሴንስ አንድ ሞጁል የት ጨለማ እንደሆነ ይነግርዎታል፤ ለምን እንደሆነ ግን አይነግርዎትም። ይህ ክፍተት የፍተሻ መሐንዲሶች ቴክኒኮችን የሚደራረቡበት ምክንያት ነው፣ ምክንያቱም ጨለማ አካባቢ የተሰነጠቀ ሴል፣ የጣት መቋረጥ፣ የተሸረረረ አካባቢ ወይም የብየዳ ጉድለት ሊሆን ይችላል፣ እና ለእያንዳንዱ የሚወሰደው የማስተካከያ እርምጃ ይለያያል። ፎቶሉሚኔሴንስ እና AOI የጎደለውን ገጽታ ይጨምራሉ፡ PL ሲሊኮኑን ራሱ ስለሚመስል፣ የቁስ ችግርን ከብረታብረት ችግር ለይቶ ማወቅ ይችላል፣ AOI ደግሞ የታተመውን ንድፍ ከዝርዝር መግለጫው ጋር ያመሳክራል። በ107 nm ባህሪ ሚዛኖች ላይ የሚደረጉ መለኪያዎች እና በWCT-120 ክፍል ውስጥ ያሉ መሳሪያዎችን በመጠቀም የሚደረግ የዕድሜ ርዝመት ባህሪ መግለጫ ጉድለቱ እስከ አንድ የሂደት ደረጃ እንዲመራ ያስችላሉ። ተግባራዊው ትምህርት የEL ምስል የምርመራ መጀመሪያ እንጂ መደምደሚያ አይደለም።

PV Module Manufacturing · by Jerry, Ooitech

ኤልኤል ጨለማ የት እንዳለ ያሳያል፣ ግን ለምን እንደሆነ አያሳይም

#PVNotes #EL #PL #AOI #DefectAnalysis

የቁጥጥር መሐንዲስ ዡ በኤልኤል ምስል ውስጥ ያለውን ጨለማ ቦታ ለአምስት ደቂቃዎች እየተመለከተ ነበር።

በመሳሪያው ስክሪን ላይ የዚያ ክልል ግራጫ ዋጋ ከአካባቢው በግልጽ ዝቅተኛ ነበር። የሂደት መሐንዲስ ዣንግ ከኋላው ቆሞ “ችግሩ ከየት ነው የሚመጣው?” ብሎ ጠየቀ።

ዙ ዘወር አላለም።

“EL ይህ አካባቢ ጨለማ ነው ይለኛል። ነገር ግን የፓሲቬሽን ሽፋኑ ተበላሽቷል፣ የኢንተርፌስ-ስቴት ጥግግት ጨምሯል፣ ወይም የኦክስጅን ዝናብ በሲሊኮን ዋፈር ውስጥ ተቀብሮ እንደነበር አይነግረኝም።”

ዣንግ አፉን ከፈተ ግን እንዴት መልስ መስጠት እንዳለበት አላወቀም።

ይህ እንደ EL ያሉ የምርት መስመር የፍተሻ መሳሪያዎች አስቸጋሪ ክፍል ነው፡ አንድ ነገር መከሰቱን ይነግሩሃል፣ ነገር ግን በትክክል ምን እንደተከሰተ ላይነግሩህ ይችላሉ።

1. መጀመሪያ፣ EL በትክክል ምን ይለካል?

ክሪስታላይን ሲሊኮን ወደ 1.12 eV የሚጠጋ የባንድጋፕ ክፍተት አለው፣ ይህም በግምት 1,107 nm የሆነ የፎቶን የሞገድ ርዝመት ጋር ይዛመዳል። ይህ በኢንፍራሬድ ክልል ውስጥ ነው እና በሰው ዓይን ሊታይ አይችልም። የምርት EL ሲስተሞች ስለዚህ የተለቀቀውን ሲግናል ለመያዝ በኢንፍራሬድ አቅራቢያ ያሉ ዳሳሾችን፣ በተለምዶ InGaCameras ካሜራዎችን ይጠቀማሉ።

EL ማለት ኤሌክትሮሉሚኔሴንስ ግልጽነው። ወደ ፀሐይ ሴል የፊት አድልዎ ይተገበራል፣ ይህም አናሳ ተሸካሚዎችን ወደ p-n መገናኛ ያስገባል። ኤሌክትሮኖች እና ቀዳዳዎች በጨረር ሲዋሃዱ፣ የኃይላቸው ከፊል እንደ ፎቶኖች ይለቀቃል።

በተግባር፣ EL ብሩህነት የአካባቢያዊ ዳግም ውህደት ባህሪ እና የተከተተው ጅረት የቦታ ስርጭት ጥምር ውጤትን ያንጸባርቃል።

EL በርካታ የተለመዱ ችግሮችን ሊያሳይ ይችላል፦

• የተቋረጠ የጅረት መንገድ፣ ለምሳሌ የተሰበረ ጣት ወይም ደካማ የሽያጭ ግንኙነት፣ ጨለማ ሆኖ ይታያል።

• ሜካኒካል ጭንቀት ማይክሮክራክ ወይም ትልቅ ስንጥቅ የሚፈጥር ከሆነ በኤሌክትሪክ የተገለሉ ወይም ደካማ የተገናኙ ጨለማ ክልሎችን ይፈጥራል።

• ዝቅተኛ ብቃት ያለው ሴል በአብዛኛው ወይም በሙሉ አካባቢው ጨለማ ሆኖ ሊታይ ይችላል።

• የአካባቢያዊ ዳግም ውህደት-ንቁ ጉድለቶች ስብስብ እንደ ጨለማ ነጥብ ሊታይ ይችላል።

EL ግልጽ የሆነ ገደብም አለው፦

• የፓሲቬሽን ጥራትን በቀጥታ አይለካም። የሚመዘግበው ከተሸካሚ መርፌ በኋላ ያለውን የሉሚነሰንስ ምላሽ ነው።

• የበይነገጽ-ሁኔታ ጥግግትን በቀጥታ አይለካም።

• በግልጽ ሁሉንም የጅምላ ክሪስታል ጉድለቶችን ለምሳሌ ዲስሎኬሽን፣ ኦክስጅን ፕሪሲፒቴት ወይም ኮንሰንትሪክ-ሪንግ ጉድለቶችን መለየት አይችልም። እነዚህ እንደ ደብዛዛ ግራጫ ልዩነቶች ብቻ ሊታዩ ይችላሉ።

• አንድ ነጠላ ኢኤል ምስል በጊዜ ሂደት የሚከሰተውን የመበላሸት ሂደት ሙሉ በሙሉ መያዝ አይችልም። አንድ መሳሪያ ዛሬ ተቀባይነት ያለው ሊመስል ይችላል ነገር ግን ከወራት አገልግሎት ወይም ከተፋጠነ እርጅና በኋላ የፓሲቬሽን መበላሸት ሊያጋጥመው ይችላል።

በቀላል አነጋገር፣ ኢኤል የአሁኑ ስርጭት ያልተለመደ መሆኑን በማሳየት ረገድ በጣም ጥሩ ነው። የቁሳቁስ ጥራት ሙሉ መለኪያ አይደለም።

ይህ በኢኤል እና ከዚህ በታች በተገለጹት ጥልቅ የትንታኔ መሳሪያዎች መካከል ያለው መለያያ መስመር ነው።

2. የፎቶቮልታይክ ምርመራ መሳሪያዎች አራት-ንብርብር ፒራሚድ

የፒቪ ምርመራ ዘዴዎች እንደሚመለከቱት ሚዛን እና መለኪያውን ለማከናወን በሚያስፈልጉት ሁኔታዎች መሰረት በአራት ንብርብሮች ሊከፋፈሉ ይችላሉ።

ወደ ጥልቀት በሄድክ ቁጥር ወደ መንስኤው ቅርብ ትሆናለህ። ንግድነቱ ብዙውን ጊዜ ከፍተኛ ወጪ፣ ቀርፋፋ ሙከራ፣ ውስብስብ የናሙና ዝግጅት ወይም አጥፊ ትንተና ነው።

ንብርብር 1፡ የምርት መስመር ምርመራ — አራት-መሳሪያ የማጣሪያ ስብስብ

ይህ የመጀመሪያው የመከላከያ መስመር ነው። በተገቢው ሁኔታ በተዋቀረ የምርት መስመር ውስጥ፣ እያንዳንዱ ሴል ወይም ሞጁል በእነዚህ የምርመራ ደረጃዎች ውስጥ ማለፍ ይችላል።

የፊት-ጎን AOI እና የኋላ-ጎን AOI፡ የማሽን እይታ በኦፕቲካል ሊታዩ የሚችሉ ጉድለቶችን ያስተናግዳል። የተለመዱ ኢላማዎች የሽፋን ወጥነት፣ የብረት ማውጣት እና የህትመት ጉድለቶች፣ የግንኙነት ጥራት እና የስርዓተ-ጥለት አሰላለፍ ናቸው። የተለየ የፊት እና የኋላ ምርመራ የሁለቱም ንጣፎች ዋና ዋና የሚታዩ ጂኦሜትሪዎችን ይሸፍናል።

EL፡ EL የአሁኑን ስርጭት ይገመግማል። ጨለማ ነጥቦች፣ የተሰበሩ ጣቶች፣ ጥቃቅን ስንጥቆች፣ እንቅስቃሴ-አልባ ቦታዎች እና አንዳንድ የግንኙነት ጉድለቶች ይታያሉ።

PL፡ PL የፓሲቬሽን ጥራት እና የጅምላ የህይወት ዘመን መረጃ ማቅረብ ይችላል። ወደ ሙሉ ኤሌክትሪካል መሳሪያ ከመፈጠሩ በፊት በሚመጡ ዋፈሮች፣ በከፊል በተሰራጁ ሴሎች እና በፓሲቬትድ መዋቅሮች ላይ ሊተገበር ይችላል። በአግባቡ ወደ ምርት ሲዋሃድ፣ ተጨማሪ የሂደት እሴት ከመጨመሩ በፊት ደካማ ፓሲቬሽን ወይም ዝቅተኛ የህይወት ዘመን ምልክቶች ያላቸውን ዋፈሮች ወይም ሴሎች ለማስወገድ ይረዳል።

የእነዚህ አራት የፍተሻ ዘዴዎች የጋራ ጥንካሬዎች ግልጽ ናቸው፡ እነሱ አጥፊ ያልሆኑ፣ ፈጣን እና ለሰፊ ምርመራ ተስማሚ ናቸው።

ውስንነታቸውም እንዲሁ ግልጽ ነው። እነሱ በዋናነት በምልክት ደረጃ ላይ ይሰራሉ። የትኛው ናሙና ያልተለመደ እንደሆነ ለሂደቱ ቡድን ይነግራሉ፣ ነገር ግን ዋናው መንስኤ አሁንም ከመስመር ውጭ መመርመር ሊያስፈልገው ይችላል።

የኢንፍራሬድ ቴርሞግራፊ በአጠቃላይ የግለሰብ ሴሎችን ሙሉ ምርመራ ከማድረግ ይልቅ በሞዱል ደረጃ የተለመደ ነው። ሙቅ ቦታዎችን፣ የአካባቢ ጥላ ተፅእኖዎችን፣ የግንኙነት ማሞቂያን፣ የባይፓስ ዳዮድ ችግሮችን እና የመገናኛ ሳጥን ውድቀቶችን ለማግኘት ጠቃሚ ነው።

ደረጃ 2፡ የአጓጓዥ ደረጃ ትንተና — ከስዕል ማንሳት ወደ ቁጥራዊ መለያየት

PL ለምርት ማጣሪያ ጥቅም ላይ ሊውል ይችላል፣ ነገር ግን የበለጠ ኃይለኛ አፕሊኬሽኖቹ በላብራቶሪዎች ውስጥ ይገኛሉ። ስፔክትራል ኢሜጂንግ፣ ኤክሳይቴሽን-ጥገኛ PL እና የተጣመረ ሞዴሊንግ የአናሳ-አጓጊ ዕድሜን፣ የመርፌ ጥገኝነትን፣ የመልሶ ማጣመር ባህሪን እና በመሳሪያ ንብርብሮች ወይም ንዑስ ሴሎች መካከል ያለውን መስተጋብር ለመለየት ሊያገለግሉ ይችላሉ።

የአናሳ-አጓጊ ዕድሜ ሙከራ በተለምዶ ከመስመር ውጭ ወይም በናሙና አሰባሰብ ይከናወናል። የተለመደ ምሳሌ ሲንቶን WCT-120 ነው፣ እሱም ጊዜያዊ ወይም ኳሲ-ቋሚ-ሁኔታ የፎቶኮንዳክታንስ ዘዴዎችን ይጠቀማል። ናሙናው ይበራል፣ የኮንዳክቲቪቲ ምላሽ ይለካል፣ እና ውጤታማው የአናሳ-አጓጊ ዕድሜ፣ τ_eff፣ ይሰላል።

ተስማሚ ሞዴሎች እና ደጋፊ መለኪያዎች ባሉበት ጊዜ መሐንዲሶች የቡልክ ዕድሜ እና የገጽታ መልሶ ማጣመር አስተዋጾችን መመርመር ይችላሉ።

የአጓጊ-ደረጃ ሙከራ ሶስት ተግባራዊ ጥያቄዎችን ይመልሳል፡ ቁሱ በኤሌክትሪክ ንቁ ነው? ፓሲቬሽኑ በቂ ነው? መልሶ ማጣመር አፈጻጸምን የሚገድበው የት ነው?

የምርት PL ብዙውን ጊዜ ፈጣን የማለፍ-ወይም-ውድቀት ምልክት ይሰጣል። የላብራቶሪ ባህሪ መግለጫ ምልክቱ ለምን እንደተለወጠ እና ምን ያህል እንደሆነ ለማስረዳት የታሰበ ነው።

ንብርብር 3፡ ማይክሮስትራክቸራል ትንተና — ክሪስታል ውስጥ መመልከት

በዚህ ደረጃ፣ ምርመራው ከሉሚኔሰንስ ምስሎች ባሻገር በመሄድ አካላዊ መዋቅርን መመርመር ይጀምራል።

SEM፣ ወይም ስካኒንግ ኤሌክትሮን ማይክሮስኮፒ፡ የላይኛውን ሞርፎሎጂ እና ተሻጋሪ ክፍሎችን ከማይክሮሜትር ስኬል እስከ ናኖሜትር ስኬል ድረስ ለመመልከት ያገለግላል፣ እንደ መሳሪያው እና ናሙናው ይለያያል።

TEM፣ ወይም ትራንስሚሽን ኤሌክትሮን ማይክሮስኮፒ፡ መፈናቀሎችን፣ የመደራረብ ጉድለቶችን፣ ቀጭን ፊልሞችን እና መገናኛዎችን በጣም ከፍተኛ ጥራት ለመመልከት ይጠቅማል። በHJT ሴሎች ውስጥ ላለው a-Si/c-Si መገናኛ ወይም በ TOPCon አሠራሮች ውስጥ ላለው የፖሊሲሊኮን/ኦክሳይድ መገናኛ፣ TEM መገናኛው እና የንብርብር ቁልል በአወቃቀር ንጹህ እና አንድ ወጥ መሆናቸውን ለመፈተሽ ከቀጥታ መሣሪያዎች አንዱ ነው።

XRD፣ ወይም ኤክስ-ሬይ ዲፍራክሽን፡ የክሪስታል መዋቅርን፣ ቀሪ ጭንቀትን፣ የደረጃ ቅንብርን እና ቴክስቸርን ለመመርመር ያገለግላል።

ራማን ስፔክትሮስኮፒ፡ ጭንቀትን፣ የቁስ ደረጃዎችን፣ የቦንዲንግ አከባቢዎችን እና ክሪስታሊኒቲን ለማጥናት ያገለግላል።

FTIR፣ ወይም ፎሪየር-ትራንስፎርም ኢንፍራሬድ ስፔክትሮስኮፒ፡ የኬሚካል ቦንዶችን እና የቦንድ አወቃቀሮችን ለመለየት ያገለግላል። በሲሊኮን የበለፀገ ሲሊኮን ናይትራይድ ጥናቶች ውስጥ፣ ለምሳሌ፣ የ FTIR ትከሻ ባህሪያት ከግራዚንግ-ኢንሲደንስ XRD እና TEM ማስረጃዎች ጋር ተደምረው የሲሊኮን ናኖክሪስታሎች ዝናብ ወይም መፈጠርን ለማረጋገጥ ያገለግላሉ።

የሲሊኮን ቁሳቁስ ራሱ አስቸጋሪ የሆኑ የጉድለት አወቃቀሮችን ሊይዝ ይችላል። በዋንግ ፔንፌይ እና ባልደረቦቹ የተደረገ ጥናት የሞኖክሪስታሊን ሲሊኮን ጉድለቶችን በሶስት ሚዛን-ተዛማጅ ምድቦች ከፍሎ ሀሳብ አቅርቧል። ከ40 ጉድለቶች/ሚሜ² በታች የሆነ ማይክሮዴፌክት እፍጋት እና ከ0.5 በታች የሆነ የኦክስጅን-ዝናብ አብዞርባንስ ለከፍተኛ ጥራት ዋፈሮች እንደ ማጣሪያ መስፈርቶች።

በ n-አይነት ቾክራልስኪ ሲሊኮን ውስጥ ያሉ ኮንሰንትሪክ-ሪንግ ጉድለቶች ከኦክስጅን ዝናብ ጋር የተያያዙ ማክሮስኮፒክ መገለጫዎች ሊሆኑ ይችላሉ። በኤል ኢምጅ ውስጥ፣ እንደ ደካማ ወይም ደብዛዛ የግራጫ ደረጃ ልዩነቶች ብቻ ሊታዩ ይችላሉ። ትክክለኛ አመጣጣቸውን ለመለየት ማይክሮስትራክቸራል ወይም የቁሳቁስ ትንተና መሳሪያዎች ያስፈልጋሉ።

ንብርብር 4፡ ውድቀት ክትትል — ከቦታ ብቻ ሳይሆን ከጊዜ ጋር መስራት

ጥልቁ ንብርብር ስለ ትናንሽ የቦታ ባህሪያት መመልከት ብቻ አይደለም። አፈጻጸም በጊዜ ሂደት እንዴት እንደሚለወጥ መከታተል ነው።

የUV መበላሸት፣ ወይም UVID፣ በአልትራቫዮሌት ተጋላጭነት ስር ከሴሎች፣ ከማሸጊያ ቁሳቁሶች፣ ከበይነገጾች እና ከሞጁሎች የረጅም ጊዜ ምላሽ ጋር የተያያዘ ነው። አንድ ነጠላ የEL ምስል የመበላሸት ዘዴን ማረጋገጥ አይችልም። መሐንዲሶች ቁጥጥር የሚደረግበት የእርጅና ቅደም ተከተል፣ ተደጋጋሚ መለኪያዎች እና መሳሪያውን ከመጋለጡ በፊት፣ በሚጋለጥበት ጊዜ እና በኋላ ማወዳደር የሚችሉ የምርመራ መሳሪያዎች ያስፈልጋቸዋል።

LeTID ተመሳሳይ አመክንዮ ይከተላል። በብርሃን እና ከፍተኛ ሙቀት ምክንያት የሚፈጠር መበላሸት በተወሰኑ የአሠራር ወይም የተፋጠነ የእርጅና ሁኔታዎች ውስጥ የሸክም ተሸካሚ የህይወት ዘመን እና የመሳሪያ አፈጻጸም ዝግመተ ለውጥ ነው። በአንድ የማይንቀሳቀስ ምስል ሙሉ በሙሉ ሊገለጽ አይችልም።

በውድቀት መከታተያ ቅደም ተከተል ውስጥ ጥቅም ላይ የሚውሉ መለኪያዎች የሚከተሉትን ሊያካትቱ ይችላሉ፦

• በተወሰኑ የእርጅና ክፍተቶች የተወሰዱ የEL እና የPL ምስሎች

• የአናሳ ተሸካሚ የህይወት ዘመን መለኪያዎች

• የIV አፈጻጸም ሙከራ

• የስፔክትራል ምላሽ ወይም የኳንተም ቅልጥፍና መለኪያዎች

• ከእርጅና በፊት እና በኋላ የቁሳቁስ እና የበይነገጽ ባህሪ መለየት

• ቁጥጥር የሚደረግበት የUV፣ የሙቀት፣ የእርጥበት፣ የኤሌክትሪክ ጅረት ወይም የብርሃን ተጋላጭነት

አራተኛው ሽፋን አንድ ነጠላ መሳሪያ አይደለም። በእርጅና ሙከራዎች፣ ተደጋጋሚ መለኪያዎች እና ማስረጃዎችን በማጣራት ላይ የተገነባ ዘዴ ነው።

3. ተግባራዊ ጉድለት ትንተና፡ መገመት ሳይሆን ማስወገድን ይጠቀሙ

የአራት-ሽፋን ፒራሚድ ነጥብ ሁሉንም የሚገኙ መሳሪያዎች መግዛት አይደለም። ነጥቡ በትክክለኛው ቅደም ተከተል እንዴት እድሎችን ማስወገድ እንደሚቻል ማወቅ ነው።

እውነተኛ የጉድለት ትንተና ብዙውን ጊዜ ከፒራሚዱ አናት ወደ ታች ይንቀሳቀሳል፡

1. በሙሉ የምርት መስመር ማጣሪያ ይጀምሩ። ያልተለመዱ ናሙናዎችን በፍጥነት ለመለየት የፊት እና የኋላ AOI፣ EL እና PL ይጠቀሙ። ስርዓቶቹ ከመስመሩ ጋር ከተዋሃዱ በኋላ የኅዳግ ምርመራ ዋጋ ዝቅተኛ ነው።

2. በEL ያልተለመዱ ናሙናዎች ላይ PL ወይም አናሳ-ተሸካሚ የህይወት ዘመን ሙከራዎችን ያካሂዱ። ይህ የማለፊያ ወይም የጅምላ-ህይወት ችግሮችን ከአሁኑ-መንገድ እና መዋቅራዊ ችግሮች ለመለየት ይረዳል።

3. መንስኤው ግልጽ ካልሆነ፣ ወደ SEM፣ TEM፣ XRD፣ Raman ወይም FTIR ይሂዱ። መሳሪያውን የሚጠረጠረው ጉዳይ በይነገጽ፣ ክሪስታል ጉድለት፣ የቁስ ደረጃ፣ ጭንቀት ወይም ኬሚካላዊ ትስስር ላይ የተመሠረተ እንደሆነ ይምረጡ።

4. የረጅም ጊዜ አስተማማኝነት ከተካተተ የእርጅና ቅደም ተከተል ያቋቁሙ። ቁጥጥር የሚደረግበት UV፣ ብርሃን፣ ሙቀት ወይም ሌሎች የጭንቀት ሁኔታዎችን ይጠቀሙ እና ናሙናውን በተወሰኑ ክፍተቶች ያወዳድሩ።

እያንዳንዱ ሽፋን በጣም ርካሹን እና ፈጣኑን ተስማሚ ዘዴ በመጠቀም ሰፊ እድሎችን ያስወግዳል። በጣም ውድ የሆኑ መሳሪያዎች ለትክክለኛ አካባቢ እና ማረጋገጫ የተያዙ ናቸው።

ከህክምና ምርመራ ጋር ተመሳሳይ ነው፡ በመደበኛ ምርመራዎች ይጀምሩ፣ ወደ ምስል ይሂዱ እና ቀደምት ማስረጃዎች ጥያቄውን መመለስ በማይችሉበት ጊዜ ብቻ ባዮፕሲ ይጠቀሙ።

እያንዳንዱ ሽፋን ምን ማየት እንደሚችል እና ምን ማየት እንደማይችል ከተረዱ በኋላ፣ የበይነገጽ ችግርን በ inline EL ብቻ ለመፍታት ሰዓታት ማሳለፍ ያቆማሉ። እንዲሁም ንጹህ የሚመስል የ PL ሪፖርት እያንዳንዱ የቁሳቁስ እና የሂደት አደጋ መወገዱን እንደሚያረጋግጥ የመቀበል እድልዎ ይቀንሳል።

የ PL ምርመራ ማለፍ የመጨረሻው መሳሪያ ውጤታማነት ከፍተኛ ይሆናል ማለት አይደለም። እንዲሁም ናሙናው ከማይክሮ መዋቅራዊ ጉድለቶች ነፃ መሆኑን አያረጋግጥም።

4. ሦስት የተለመዱ የተሳሳቱ አመለካከቶች

የተሳሳተ አመለካከት 1፡ “EL መበላሸትን መለካት ይችላል”

EL የመሳሪያውን የአሁኑን የብርሃን አመንጪ እና የመልሶ ማጣመር ስርጭት በተመረጡት የኤሌክትሪክ ሁኔታዎች ያሳያል። ዘገምተኛ መበላሸት፣ ከUV ጋር የተያያዙ የፓሲቬሽን ለውጦችን እና LeTIDን ጨምሮ፣ በጊዜ ላይ የተመሰረተ ሂደት ነው።

አንድ ነጠላ EL ምስል የተበላሸ ቦታ መኖሩን ሊያሳይ ይችላል፣ ነገር ግን የመበላሸቱን ዘዴ በራሱ ማረጋገጥ አይችልም። የህይወት ዘመን መለኪያዎች፣ የእርጅና ቅደም ተከተሎች እና ተደጋጋሚ ባህሪ መስጠት ያስፈልጋሉ።

የተሳሳተ አመለካከት 2፡ “PL እና EL እርስ በርስ ተመሳሳይ ናቸው፣ ስለዚህ ሁለቱንም መግዛት ተደጋጋሚ ነው”

የማነቃቂያ ዘዴዎቻቸው የተለያዩ ናቸው።

PL የኦፕቲካል ማነቃቂያ ይጠቀማል። የተጠናቀቀ የኤሌክትሮድ መዋቅር አያስፈልገውም እና ዋፈርን፣ ፓሲቬይትድ ናሙናዎችን እና በከፊል የተሰሩ ሴሎችን ለመመርመር ሊያገለግል ይችላል።

EL የኤሌክትሪክ መርፌን ይጠቀማል። የሚሰራ የኤሌክትሪክ መንገድ፣ ተስማሚ የመሳሪያ መዋቅር እና የተተገበረ ቮልቴጅ ያስፈልገዋል። በተለይ የአሁኑን ስርጭት እና በኤሌክትሪክ እንቅስቃሴ ውስጥ ያልተሳተፉ አካባቢዎችን በሚሰራ መሰል የመርፌ ሁኔታዎች ለመመልከት ጠቃሚ ነው።

PL እና EL ተጨማሪ ዘዴዎች ናቸው። አንዱ በቀላሉ ሌላውን አይተካም።

የተሳሳተ አመለካከት 3፡ “ትላልቅ አምራቾች ብቻ የማይክሮ መዋቅራዊ መሳሪያዎች ያስፈልጋቸዋል”

እውነተኛው ትምህርት እያንዳንዱ ፋብሪካ ሙሉ SEM፣ TEM፣ XRD፣ Raman እና FTIR ላብራቶሪ መግዛት አለበት ማለት አይደለም።

አስፈላጊው ክፍል እያንዳንዱ መሳሪያ የትኛውን ጥያቄ መመለስ እንደሚችል መረዳት ነው። የመስመር ውስጥ መሳሪያዎች ወሰን ግልጽ ከሆነ በኋላ፣ ናሙናዎች ወደ ብቃት ያለው የሶስተኛ ወገን ላብራቶሪ፣ የዩኒቨርሲቲ ተቋም ወይም ልዩ የትንታኔ ማዕከል መላክ ይቻላል።

ይህ እውቀት የምህንድስና ቡድኖች የአቅራቢ መረጃ የተጠቀሰውን መደምደሚያ ይደግፋል ወይም አይደግፍም ብለው ለመፍረድ ይረዳል።

5. የመጨረሻ ማስታወሻ

እያንዳንዱን የምርመራ መሳሪያ ባለቤት መሆን አያስፈልግዎትም። እያንዳንዱን ጉድለት በአቶሚክ ደረጃ መረዳትም አያስፈልግዎትም።

ነገር ግን EL “ይህ አካባቢ ጨለማ ነው” ሲል ሲነግርዎት፣ ቀጥሎ ምን መጠየቅ እንዳለቦት ማወቅ ያስፈልግዎታል፦

ለምን ጨለማ ነው፣ እና የትኛው የምርመራ ፒራሚድ ሽፋን ሊመረምረው ይገባል?

ያ የEL ምስልን በቀላሉ ማንበብ እና የፎቶቮልታይክ ጉድለትን በትክክል መረዳት መካከል ያለው ልዩነት ነው።

የOoitech እይታ

ጨለማ የኤል ክልል እንደ መጨረሻ ምርመራ ሳይሆን እንደ ምርመራ መጀመሪያ መታየት አለበት። በምርት መስመር ላይ፣ ምርጥ ውጤቶች የሚገኙት የኤል ንድፎችን ከAOI፣ PL፣ የሂደት መዝገቦች እና የኤሌክትሪክ ሙከራ መረጃዎች ጋር በማገናኘት ከዚያም የተመረጡ ናሙናዎችን ውድ ለሆነ ማይክሮ መዋቅር ትንተና በመላክ ነው። እውነተኛው ዋጋ ተጨማሪ የፍተሻ መሳሪያዎች መኖር ሳይሆን እያንዳንዱን ጉድለት ፊርማ ከሚቀጥለው ተገቢ ሙከራ ጋር የሚያገናኝ የመከታተያ ውሳኔ መንገድ መገንባት ነው።

ተጨማሪ ንባብ እና የዳራ መረጃ

በኢንዱስትሪው የቴክኖሎጂ ፍኖተ ካርታ እና የገበያ መረጃን በሚያስተዳድሩ ድርጅቶች የታተመ በዚህ ርዕስ ላይ የህዝብ ማጣቀሻ ቁሳቁስ፡

• Fraunhofer ISE — የፎቶቮልታይክ ሪፖርት
• የዩናይትድ ስቴትስ የኢነርጂ ዲፓርትመንት — ፎቶቮልታይክስ
• VDMA — ዓለም አቀፍ የፎቶቮልታይክ ቴክኖሎጂ ፍኖተ ካርታ (ITRPV)